M2

M2 Metlogix光学测量和检测软件是一种功能强大的软件解决方案，使用起来很直观，并可通过多种先进的工具来简化测量和报告任务

毫不费力的软件导航

这种“无菜单”软件可帮助操作员轻松进行软件导航。 带逻辑布局设计，操作员可快速熟悉M2软件，从而在测量程序中节省时间并减少对长培训课程的要求。

专为多点触控设计

除了传统的鼠标界面以外，扩展的多点触控逻辑还能通过捏拉、滑动或按压等手势，实现移动、缩放及激活零件视图等各种功能。

基于图形的“零件视图”结构

零件视图是部件的图形表示，由测量的特征和结构组成，可用于收集额外的测量数据，例如切线以及从一个特征到另一个特征之间的距离。

M2光学测量软件的零件视图

特征细节图

单个特征可提供完整的测量数据、显示点云分布，以及标称值、偏差和公差结果。

几何公差测定

您只需几秒钟就能测量特征、设定标称值、应用公差并通过“特征到特征”方式或采用“位置公差”来查看偏差结果。

M2光学测量软件的公差报告

提供多种传统公差确定方式，包括“位置公差”，以规定数值的位数数量并节省时间和减少操作员误差。

灵活的报告功能

查看、打印或导出报告 可直接用本地或联网的Windows兼容打印机打印或导出到本地或联网的存储位置。 报告的数据格式包括： CSV、TSV、TXT、DXF、欧洲格式、公差和标准报告。

平台和光学系统校准

每个测量台都在出厂前进行了非线性误差矫正（NLEC）校准，以确保最佳的精确度，校准可溯及NPL/NAMAS/NIST国际标准以符合ISO9000质量认证。