Thu 08 Jan 2009
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测量和检查系统

Vision Engineering 非接触测量系统系列可提供所有材料复杂制造组件的高精度、可复验测量。

从 2 轴手动系到完全自动化、边缘检测 3 轴测量平台,Hawk 和 Kestrel 产品系列可提供符合一系列测量要求的模块化灵活解决方案。

Vision Engineering 光学技术提供高、低放大倍率的高分辨率复杂部件观测。系统简便易用且能长时间使用,可改善操作员的表现。

  完整测量系统系列
低投资—高精度—手动—自动
高分辨率,高对比度光学镜片
强大、完整的几何 PC 软件
使用简便的数据处理器
“耐疲劳”专利光学技术
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从 2 轴手动系统到完全自动化边缘检测 3 轴测量平台,Hawk可以为几乎所有度量衡任务提供解决方案。

Hawk非接触测量系统系列提供所有材料复杂制造组件的高精度、可复验测量,并可提供符合一系列测量要求的模块化灵活解决方案。使用高对比度、高分辨率光学图像,增强表面清晰度,即可实现对复杂组件的快速、简便以及精确的测量。关键部件的测量可以轻松解决!

高精确度非接触测量和检查


快速、简单而精确的测量
高精确度,3 轴 (X,Y,Z) 测量
高精度测量台选项
3 轴完整几何 PC 软件
数码摄像机功能
“耐疲劳”专利光学镜片
高精确度自动测量


快速、简单而精确的测量
高精确度,3 轴 (X,Y,Z) 测量
完全自动化或手动检查
可为复杂组件调试
3 轴完整几何 PC 软件
“耐疲劳”专利光学镜片
       

Kestrel 一种是 2 轴非接触测量系统,以合理的价格提供适合现场使用的高品质控制精确度。

提供 2 轴高速、精确的符合人机工程学测量的同时,Kestrel 结合了工程应用需要的实验室精密性、可复验性、出色的分辨率以及高速与使用简便,因而成为常规测量应用的理想选择。

适合现场生产的高精确度测量


快速简便的测量
高精确度,低投资系统
2 轴 (X,Y) 测量
强大的 2 轴微处理器
最大放大倍率 x50
“耐疲劳”专利光学镜片
     
         
对照表


 
测量轴
最大测量能力
数据处理选项
系统放大范围
编码器分辨率
Kestrel
X, Y
150mm x 100mm
QC200 微处理器
x10 - x50
1µm
Hawk
Manual
X, Y, Z
400mm x 300mm
QC200 微处理器 /
QC5000 完整几何 PC 软件
x10 - x1000
0.5µm
Hawk
Automated
X, Y, Z
200mm x 150mm
QC5000 完整几何 PC 软件
x10 - x400
0.5µm
 
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