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Kestrel 200光学测量显微镜

Kestrel提供优异的2-坐标非接触式测量系统的光学质量和测量精度,其组合配置非常适合在车间使用。

0 综述 详细说明 QC-200 技术规范

Kestrel二坐标测量系统 - 综述

Kestrel 200光学测量显微镜 英国工业显微镜有限公司的Kestrel 200光学测量显微镜为精密元器部件,提供快捷和精确的2-坐标测量。

从简单的手工、单一特性作业至较复杂的元器部件测量,Kestrel 200把高分辨率、高对比度光学成像与直观的微处理器相结合,为广泛的测量应用,提供准确性和简易性。Kestrel优异的光学成像甚至能在反差小的元器件上测量到难以观察的形状,例如黑色的或透明的塑料。
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  • 2-坐标非接触式测量
  • 专利的光学成像明确地辨别轮廓,提供卓越的分辨率和对比度
  • 强劲和直观的微处理器给予简易的、快捷的测量结果
  • 成像采集选配件
  • 高精度,低投资系统
Kestrel 200二坐标测量系统

直观的微处理器

Kestrel 200是英国工业显微镜有限公司的光学测量产品系列里的最小的成员,配置了150毫米 x 100毫米测量平台使得Kestrel成为适用于测量小型结构复杂零部件的二维形状。数据处理由 QC-200 多功能微处理器完成,并且以操作简便为主的设计。

直观的QC-200 软件能够由车间工人或技术人员操作使用,并供选择英语、法语、德语、意大利语、葡萄牙语、西班牙语、瑞典语、捷克语、波兰语、土耳其语、日语和汉语。
更多关于Kestrel 200的说明,请参阅Kestrel二坐标非接触测量系统详细说明。请上微处理器页面参考Kestrel二维测量系统微处理器的信息或至Kestrel光学非接触式测量平台规格页参考本测量系统的技术参数。


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